當(dāng)前位置：首頁 > 技術(shù)文章
在材料科學(xué)與精密制造領(lǐng)域，ThetaMetrisis膜厚測量儀憑借其良好的測量精度和智能分析能力，成為薄膜厚度檢測的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。本文將詳細(xì)解析該設(shè)備從安裝到操作的全流程，揭示其精準(zhǔn)測量的科學(xué)原理。一、系統(tǒng)安裝與調(diào)試設(shè)備安裝需選擇防震臺面，確保...
探針式輪廓儀通過物理探針接觸樣品表面，以高精度測量微觀形貌。其核心原理是：探針（通常為金剛石材質(zhì)，曲率半徑50nm-25μm可選）在樣品表面劃動時，表面微觀凹凸使探針產(chǎn)生垂直位移，位移傳感器（如壓電陶瓷或激光干涉式）將機(jī)械位移轉(zhuǎn)化為電信號，經(jīng)放大、濾波后重建三維輪廓。該技術(shù)可實現(xiàn)0.1nm級垂直分辨率和0.05-0.2μm橫向分辨率，測量范圍達(dá)55mm，適用于晶圓薄膜厚度、金屬表面粗糙度等場景。精度影響因素可歸納為以下核心維度：探針參數(shù)半徑：半徑過?。ㄈ鐪y量力：需控制在微牛級...
在材料科學(xué)與電子設(shè)備制造領(lǐng)域，薄膜技術(shù)的突破正推動著產(chǎn)品性能的迭代升級。從柔性顯示屏的透明導(dǎo)電層到半導(dǎo)體芯片的納米級柵極氧化層，膜厚控制精度直接決定了材料的電學(xué)、光學(xué)及機(jī)械性能。膜厚測量儀作為關(guān)鍵質(zhì)量檢測工具，憑借其非接觸、高精度、快速分析的特點，成為研發(fā)與生產(chǎn)環(huán)節(jié)中至關(guān)重要的“精密標(biāo)尺”。一、材料研發(fā)：從實驗室創(chuàng)新到規(guī)?；瘧?yīng)用的橋梁在新型材料開發(fā)過程中，膜厚測量儀為研究者提供了實時反饋與過程優(yōu)化手段。例如，在鈣鈦礦太陽能電池研發(fā)中，空穴傳輸層的厚度需精確控制在20-50納米...
膜厚測量儀是半導(dǎo)體、光學(xué)鍍膜、材料科學(xué)等領(lǐng)域的關(guān)鍵檢測設(shè)備，其測量精度直接影響產(chǎn)品質(zhì)量與工藝優(yōu)化。本文以常見接觸式（如臺階儀）與非接觸式（如光譜橢偏儀）儀器為例，系統(tǒng)梳理從儀器校準(zhǔn)到數(shù)據(jù)處理的完整操作步驟，助力用戶高效獲取可靠數(shù)據(jù)。一、操作前準(zhǔn)備：環(huán)境與樣品預(yù)處理1.環(huán)境控制：將儀器置于恒溫（20-25℃）、無振動的工作臺，避免溫度波動或機(jī)械振動導(dǎo)致測量誤差。關(guān)閉強(qiáng)光光源，減少環(huán)境光對光學(xué)類儀器的干擾。2.樣品清潔：用無塵布蘸取異丙醇（IPA）輕輕擦拭樣品表面，去除指紋、灰塵...
在半導(dǎo)體制造的精密世界里，硅片膜層厚度的微小偏差都可能導(dǎo)致器件性能衰減甚至失效。傳統(tǒng)接觸式測量方法因易劃傷晶圓表面、無法實時監(jiān)測等問題，逐漸被非接觸式技術(shù)取代。近紅外光（NIR）憑借其特殊的物理特性，成為硅片厚度測量儀的核心光源，為芯片制造、光伏產(chǎn)業(yè)等領(lǐng)域提供了兼具速度與精度的解決方案。一、穿透性與低吸收：NIR破解多層膜“透明迷宮”硅片表面常沉積有氧化硅、氮化硅、多晶硅等多層薄膜，傳統(tǒng)可見光易被膜層吸收或反射，導(dǎo)致測量信號失真。近紅外光（波長范圍780-2500nm）的能量...
動態(tài)激光干涉儀作為現(xiàn)代精密測量領(lǐng)域的儀器，其核心技術(shù)體系融合了光學(xué)、電子學(xué)和計算機(jī)科學(xué)的創(chuàng)新成果。該系統(tǒng)通過激光干涉原理實現(xiàn)納米級動態(tài)測量，在半導(dǎo)體制造、精密光學(xué)和超精密加工等領(lǐng)域具有不可替代的作用。一、核心測量原理基于遜干涉儀的光路架構(gòu)，采用頻率穩(wěn)定的氦氖激光源（波長632.8nm），通過分束鏡產(chǎn)生參考光和測量光。當(dāng)測量光經(jīng)運動目標(biāo)反射后與參考光干涉，形成的明暗條紋變化被高靈敏度光電探測器捕獲。位移量計算公式為：ΔL=N×λ/2其中N為條紋計數(shù)，λ為激光波長。采用四象限探測...